|
I. Wstęp - Rodzaje, struktura, własności materiałów.
1. Rodzaje materiałów:
a) półprzewodniki,
b) metale i stopy,
c) ceramiki,
d) polimery,
e) materiały dielektryczne i ferroelektryczne,
f) nadprzewodniki,
g) materiały magnetyczne,
h) materiały optyczne,
2. Struktura i własności materiałów:
a) struktura kryształów,
b) wiązania w ciele stałym,
c) uporządkowanie i nie uporządkowanie w materii,
d) fonony,
e) procesy aktywowane termicznie, diagramy i przejścia fazowe,
f) elektrony w ciele stałym: elektryczne i termiczne własności,
g) optyczne własności materiałów,
h) magnetyczne własności materiałów,
i) mechaniczne własności materiałów.
II. Fizyczne metody charakteryzacji materiałów.
1. Techniki dyfrakcyjne:
a) dyfrakcja rentgenowska,
b) dyfrakcja elektronów niskiej energii,
c) dyfrakcja elektronów wysokiej energii,
d) neutronografia.
2. Spektroskopia optyczna:
a) spektroskopia w podczerwieni, zakresie widzialnym i ultrafiolecie,
b) elipsometria,
c) spektroskopia ramanowska,
d) luminescencja,
e) transmisja, absorpcja, odbicie,
f) nieliniowa spektroskopia optyczna.
3. Mikroskopia i spektroskopia elektronowa:
a) elektronowa mikroskopia skaningowa,
b) elektronowa mikroskopia transmisyjna,
c) fotoemisja,
d) spektroskopia Auger’a.
4. Mikroskopia powierzchni:
a) mikroskopia sił atomowych,
b) skaningowa mikroskopia tunelowa.
5. Metody analizy składu materiału:
a) spektrometria atomowa absorpcyjna i transmisyjna,
b) rentgenowska analiza fluorescencyjna,
c) spektrometria masowa.
6. Pomiary własności elektrycznych:
a) metody mostkowe,
b) metoda dwu- i czterokontaktowa,
c) metody bezkontaktowe,
d) metoda oparta na zjawisku Halla,
e) efekt Peltiera i przewodnictwo cieplne.
7. Pomiary własności magnetycznych:
a) magnetometr Fonera,
b) magnetometr R-VSM,
c) magnetometr Faradaya,
d) mostki zmiennoprądowe.
8. Pomiary własności mechanicznych:
a) ściskanie, rozciąganie i skręcanie,
b) elastometria.
|
